用根軌跡法進行系統(tǒng)校正，是將高階系統(tǒng)看作次阻尼二階系統(tǒng)進行設(shè)計，所以，在校正裝置設(shè)計之后，需要進行（），看被忽略掉的系統(tǒng)極點對系統(tǒng)動態(tài)性能的影響。正因為降階處理的粗略性，設(shè)計初確定主導極點位置時需要留出（）。

微分方程階數(shù)從傳遞函數(shù)中看不出來。（）

PID參數(shù)整定方法通?？梢苑譃槔碚撚嬎阏ǚê停ǎ┱ǚā?/p>

采樣控制系統(tǒng)在采樣間隔期間，對作用于系統(tǒng)的擾動沒有補償作用。（）

用根軌跡法設(shè)計系統(tǒng)的校正裝置，首先由給定的（）確定主導極點的位置：然后通過設(shè)置校正裝置的（）使根軌跡通過主導極點的預(yù)期位置；最后，計算預(yù)期位置處的根軌跡增益從而得到校正裝置（），通過增加（）滿足系統(tǒng)的靜態(tài)精度要求。

首一多項式形式的傳遞函數(shù)對應(yīng)的增益稱為：（）

在負反饋系統(tǒng)中，若開環(huán)傳遞函數(shù)增加了一個位于s左半平面的極點，則其根軌跡（）。

采用串聯(lián)超前校正時，通?？墒剐Ｕ笙到y(tǒng)的增益剪切頻率ωc（）。

一個實際的即物理上可實現(xiàn)的線性系統(tǒng)，其傳遞函數(shù)必然是嚴格真有理分式，但社會等廣義系統(tǒng)不受此限制。（）

滯后校正的轉(zhuǎn)折頻率選得距截止頻率越遠，滯后校正裝置本身在處造成的相角滯后就（）。然而，距越遠，容易造成“（）”現(xiàn)象。