圖是直射縱波一次脈沖反射法檢測同樣厚度試件的三種典型的波形圖。比較各波形,試判斷在同樣檢測條件下,哪個波形圖表示無缺陷()
A.波形圖1
B.波形圖2
C.波形圖3
D.不能確定
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圖是直射縱波一次脈沖反射法檢測同樣厚度試件的三種典型的波形圖。比較各波形,試判斷在同樣檢測條件下,哪個波形圖可能存在較小缺陷?()
A.波形圖1
B.波形圖2
C.波形圖3
D.不能確定
圖是直射縱波一次脈沖反射法檢測同樣厚度試件的三種典型的波形圖。比較各波形,試判斷在同樣檢測條件下,哪個波形圖可能存在較大缺陷()
A.波形圖1
B.波形圖2
C.波形圖3
D.不能確定
圖是雙晶探頭脈沖反射法檢測示意圖,如果右圖中波T和波3分別是始波和試件底波,則波1和波2分別代表以下哪種波()
A.波1是缺陷F波、波2是缺陷F二次波
B.波1是雜波、波2是缺陷F波
C.波1是界面波、波2為缺陷F波
D.以上都可能
一缺陷主平面垂直于試件A面且位于試件中部,如圖所示,如果只能從試件B面探測的話,采用下列哪種技術(shù)比較合適?()
A.直射聲束單探頭
B. 斜射聲束單探頭
C.直射聲束雙探頭
D.斜射聲束雙探頭
一缺陷主平面垂直于試件A面且位于試件中部,如圖所示,如果只能從試件A面探測的話,采用下列哪種技術(shù)最為合適()
A.直射聲束單探頭
B.斜射聲束單探頭
C.直射聲束雙探頭
D.斜射聲束雙探頭
最新試題
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯誤的是()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
利用底波計算法校準(zhǔn)靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。