已知單位反饋控制系統(tǒng)開(kāi)環(huán)傳遞函數(shù)如下,試概略畫出相應(yīng)的閉環(huán)根軌跡圖(要求算出起始角):
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
設(shè)單位反饋控制系統(tǒng)開(kāi)環(huán)傳遞函數(shù)如下,試概略繪出相應(yīng)的閉環(huán)根軌跡圖(要求確定分離點(diǎn)坐標(biāo)d):
設(shè)單位反饋控制系統(tǒng)開(kāi)環(huán)傳遞函數(shù)如下,試概略繪出相應(yīng)的閉環(huán)根軌跡圖(要求確定分離點(diǎn)坐標(biāo)d):
設(shè)單位反饋控制系統(tǒng)開(kāi)環(huán)傳遞函數(shù)如下,試概略繪出相應(yīng)的閉環(huán)根軌跡圖(要求確定分離點(diǎn)坐標(biāo)d):
最新試題
用根軌跡法設(shè)計(jì)系統(tǒng)的校正裝置,首先由給定的()確定主導(dǎo)極點(diǎn)的位置:然后通過(guò)設(shè)置校正裝置的()使根軌跡通過(guò)主導(dǎo)極點(diǎn)的預(yù)期位置;最后,計(jì)算預(yù)期位置處的根軌跡增益從而得到校正裝置(),通過(guò)增加()滿足系統(tǒng)的靜態(tài)精度要求。
系統(tǒng)局部反饋通路中接入的校正裝置稱為()校正裝置。
對(duì)于典型二階系統(tǒng),當(dāng)系統(tǒng)為欠阻尼時(shí),其階躍響應(yīng)呈現(xiàn)()。
在頻率法校正中,串聯(lián)滯后校正的實(shí)質(zhì)是利用校正裝置的()。
超前校正適用于改善系統(tǒng)的(),而滯后校正常用于改善系統(tǒng)的()。如果系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)和穩(wěn)態(tài)特性均較差時(shí),通常需采用()。
閉環(huán)極點(diǎn)的積等于開(kāi)環(huán)極點(diǎn)的積。()
滯后校正能夠在開(kāi)環(huán)比例系數(shù)不降低的前提下,降低()頻段和()頻段的開(kāi)環(huán)增益而不影響()頻段。
PID控制器的特點(diǎn)包括()。
采樣控制系統(tǒng)在采樣間隔期間,對(duì)作用于系統(tǒng)的擾動(dòng)沒(méi)有補(bǔ)償作用。()
在負(fù)反饋系統(tǒng)中,若開(kāi)環(huán)傳遞函數(shù)增加了一個(gè)位于s左半平面的極點(diǎn),則其根軌跡()。