A.使縱波沿工件表面垂直方向射入試件
B.用兩個晶片以不同頻率振動
C.用低頻探頭
D.使重波探頭對試件表面傾斜一定角度入射
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.將X 一切割的石英晶片直接放在材料表面,涂油耦合
B.將兩個探頭對置在試件兩面
C.將球形聲透鏡加在探頭上
D.同斜探頭,晶片裝在塑料斜楔上,聲束傾斜進入工件
A.檢測速度有變化時
B.實際傳播聲速與給定材料所取聲速值明顯不同時
C.探頭與被測工件間用水耦合時
D.用縱波時
A.示波屏上無底波顯示
B.難于探測平行于表面的缺陷
C.通常能顯示金屬中的疏松狀態(tài)
D.會降低檢測穿透能力
A.直探法
B.表面波法
C.斜探法
D.穿透法
E.脈沖回波法
A.缺陷大小
B.缺陷方向
C.缺陷類型
D.以上全是
E.僅A 和B
最新試題
像質計放置次數(shù)一般應與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
對于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時,就可采用多膠片技術。
底片或電子圖片、X射線照相檢驗記錄、射線檢測報告副本、檢測報告等及臺帳由X光透視人員負責管理。
焊接工藝處理超標缺陷必須閱片的主要目的是()。
對焊接接頭穩(wěn)定時間有規(guī)定的產品,工藝規(guī)程應作出規(guī)定,檢驗監(jiān)控確認,檢驗蓋章時穩(wěn)定時間不足者應在申請單注明穩(wěn)定時間節(jié)點,否則X光室視為穩(wěn)定時間符合要求。
一次完整的補焊過程中缺陷是否排除X光透照確認可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。
一次完整的兩面多層補焊,當正面打底層質量進行過一次X射線檢測,若反面還需打底,則無需X射線檢測。
送檢產品工序狀態(tài)及表面質量應符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求,經(jīng)表面檢驗合格,申請單無需檢驗蓋章確認。
探傷人員在透視間內發(fā)現(xiàn)輻射正在進行應立即()。
底片圖像質量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。