單項選擇題水浸法探傷,要在試件中產生橫波,最常用的方法是()

A.使縱波沿工件表面垂直方向射入試件
B.用兩個晶片以不同頻率振動
C.用低頻探頭
D.使重波探頭對試件表面傾斜一定角度入射


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1.單項選擇題在接觸法探傷中,怎樣可在被檢材料中產生橫波?()

A.將X 一切割的石英晶片直接放在材料表面,涂油耦合
B.將兩個探頭對置在試件兩面
C.將球形聲透鏡加在探頭上
D.同斜探頭,晶片裝在塑料斜楔上,聲束傾斜進入工件

2.單項選擇題什么情況下,超聲測厚后明顯誤差()

A.檢測速度有變化時
B.實際傳播聲速與給定材料所取聲速值明顯不同時
C.探頭與被測工件間用水耦合時
D.用縱波時

3.單項選擇題被檢工件表面與底面不平行會產生什么情況()

A.示波屏上無底波顯示
B.難于探測平行于表面的缺陷
C.通常能顯示金屬中的疏松狀態(tài)
D.會降低檢測穿透能力

4.單項選擇題用下列哪種方法,缺陷不會在示波屏上產生一定波形顯示()

A.直探法
B.表面波法
C.斜探法
D.穿透法
E.脈沖回波法

5.單項選擇題由缺陷反射的聲能值取決于()

A.缺陷大小
B.缺陷方向
C.缺陷類型
D.以上全是
E.僅A 和B

最新試題

像質計放置次數(shù)一般應與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。

題型:判斷題

對于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時,就可采用多膠片技術。

題型:判斷題

底片或電子圖片、X射線照相檢驗記錄、射線檢測報告副本、檢測報告等及臺帳由X光透視人員負責管理。

題型:判斷題

焊接工藝處理超標缺陷必須閱片的主要目的是()。

題型:單項選擇題

對焊接接頭穩(wěn)定時間有規(guī)定的產品,工藝規(guī)程應作出規(guī)定,檢驗監(jiān)控確認,檢驗蓋章時穩(wěn)定時間不足者應在申請單注明穩(wěn)定時間節(jié)點,否則X光室視為穩(wěn)定時間符合要求。

題型:判斷題

一次完整的補焊過程中缺陷是否排除X光透照確認可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。

題型:判斷題

一次完整的兩面多層補焊,當正面打底層質量進行過一次X射線檢測,若反面還需打底,則無需X射線檢測。

題型:判斷題

送檢產品工序狀態(tài)及表面質量應符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求,經(jīng)表面檢驗合格,申請單無需檢驗蓋章確認。

題型:判斷題

探傷人員在透視間內發(fā)現(xiàn)輻射正在進行應立即()。

題型:單項選擇題

底片圖像質量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。

題型:判斷題