A.唯一性
B.多樣性
C.按照程序或圖紙等的相關(guān)規(guī)定確定
D.A 和C
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A.檢測(cè)出的缺陷顯示應(yīng)使用管壁減少的百分?jǐn)?shù)來(lái)記錄其最大估計(jì)深度
B.對(duì)于深度達(dá)到20%壁厚的缺陷必須予以記錄
C.對(duì)于深度不足20%的缺陷不需記錄
D.對(duì)于深度不足20%的缺陷可統(tǒng)稱(chēng)為小于20%而無(wú)需記錄精確的百分?jǐn)?shù)
A.渦流陣列技術(shù)掃查覆蓋區(qū)域大
B.陣列探頭是由多個(gè)獨(dú)立工作的線(xiàn)圈構(gòu)成，這些線(xiàn)圈按照特殊的方式排布
C.陣列探頭造價(jià)便宜
D.陣列探頭易于克服提離效應(yīng)影響
A.1-2倍
B.2-3倍
C.3-4倍
D.4-5倍
A.不受趨膚深度條件的限制
B.壁厚與相位滯后存在線(xiàn)性關(guān)系
C.適于短小的和非管狀的試件
D.對(duì)被檢管材的內(nèi)外壁缺陷具有相近的靈敏度
最新試題
照度計(jì)是用來(lái)測(cè)量工作場(chǎng)所光照度的基本儀器，不可以用來(lái)測(cè)量：（）。
圖像傳導(dǎo)束光纖的直徑一般在：（）。
下列缺陷可能影響無(wú)損檢測(cè)結(jié)果判斷的是：（）。
下列關(guān)于退磁因子的敘述，正確的是（）。
若要檢出鑄鋼閥體表面和近表面缺陷，宜采用（）。
因?yàn)槌暡〞?huì)擴(kuò)散衰減， 所以檢測(cè)必須在未擴(kuò)散區(qū)檢測(cè)。
無(wú)損檢驗(yàn)的優(yōu)點(diǎn)之一在于能不損害被檢件的使用性能而確定被檢件的質(zhì)量。
檢測(cè)與工件軸線(xiàn)方向平行的缺陷時(shí)，不可使用的磁化方法是：（）。
橫孔試塊不能測(cè)定探頭雙峰。
鍛件磁粉檢驗(yàn)時(shí)，磁痕顯示不濃密，但對(duì)其表面打磨后磁痕更加清晰，可能是以下哪種缺陷造成的（）？