A.輕型動(dòng)力觸探試驗(yàn)
B.重型動(dòng)力觸探試驗(yàn)
C.靜力觸探試驗(yàn)
D.標(biāo)準(zhǔn)貫入試驗(yàn)
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C.靜力觸探試驗(yàn)
D.標(biāo)準(zhǔn)貫入試驗(yàn)
A.大于
B.大于等于
C.小于
D.小于等于
A.大于
B.大于等于
C.小于
D.小于等于
A.1/2R
B.1/3R
C.2/3R
D.樁頂中心
A.(1/2~1/3)R
B.(1/2~2/3)R
C.(1/3~2/3)R
D.任意點(diǎn)
最新試題
下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中,錯(cuò)誤的是()。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
補(bǔ)焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗(yàn)負(fù)責(zé),對(duì)兩個(gè)補(bǔ)焊區(qū)交界部位補(bǔ)焊次數(shù)的界定,需要通過底片觀察提供幫助時(shí),X光室應(yīng)予以配合。
射線檢測最有害的危險(xiǎn)源是(),必須嚴(yán)加控制。
產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗(yàn)合格后不得再實(shí)施影響接頭性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否則應(yīng)重新申請進(jìn)行X射線檢測。
提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家()
像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
X射線探傷室應(yīng)建立健全輻射安全管理制度及應(yīng)急預(yù)案。
廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集,定期送指定的機(jī)構(gòu)處理。