A.橫波
B.表面波
C.縱波
D.以上都是
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A.必須有合適的入射面
B.對(duì)各種不同結(jié)果的解釋要求具備較高的技能
C.采用的方法是否有效直接取決于入射方向與缺陷的取向
D.粗糙的表面會(huì)影響檢查結(jié)果
A.斜入射縱波
B.斜入射橫波
C.表面波
D.縱波雙晶片探頭
A.最下層板的孔周圍的裂紋
B.最上層板的孔周圍的裂紋
C.使聲波導(dǎo)入的那層板的孔周圍的裂紋
D.任何一層板的孔周圍的裂紋
A.均勻的漆層
B.薄而均勻的密封膠或防腐涂層
C.鍍層
D.以上都必須去除
A.波峰尖銳、前沿陡峭、波峰起伏變化快
B.波較寬、波尖多峰、伴隨雜波、起伏平緩
C.波幅較高、波峰起伏變化快
D.以上都可能
最新試題
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
（）是影響缺陷定量的因素。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。