問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】例舉并描述IC生產(chǎn)過(guò)程中的5種不同電學(xué)測(cè)試。

答案: IC生產(chǎn)過(guò)程中的5種不同電學(xué)測(cè)試:
(1)IC設(shè)計(jì)驗(yàn)證:描述、調(diào)試和檢驗(yàn)新的芯片設(shè)計(jì),保證符合規(guī)格要求,是在生...
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答案: 四種真空范圍:
(1)低級(jí)真空:氣流主要是由分子間碰撞產(chǎn)生的(也稱滯留),壓強(qiáng)高得足以機(jī)械型壓力測(cè)量?jī)x測(cè)量。
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