比例微分串聯(lián)校正裝置的主要作用是改善系統(tǒng)的（）。

采樣控制系統(tǒng)在采樣間隔期間，對作用于系統(tǒng)的擾動沒有補償作用。（）

采用相位超前校正將使系統(tǒng)的增益剪切頻率（）。（選填增大或減?。?/p>

滯后校正能夠在開環(huán)比例系數(shù)不降低的前提下，降低（）頻段和（）頻段的開環(huán)增益而不影響（）頻段。

系統(tǒng)局部反饋通路中接入的校正裝置稱為（）校正裝置。

采用串聯(lián)超前校正時，通?？墒剐Ｕ笙到y(tǒng)的增益剪切頻率ωc（）。

用根軌跡法進行系統(tǒng)校正，是將高階系統(tǒng)看作次阻尼二階系統(tǒng)進行設計，所以，在校正裝置設計之后，需要進行（），看被忽略掉的系統(tǒng)極點對系統(tǒng)動態(tài)性能的影響。正因為降階處理的粗略性，設計初確定主導極點位置時需要留出（）。

已知某單位負反饋系統(tǒng)在單位階躍輸入信號作用下的穩(wěn)態(tài)誤差為零，且系統(tǒng)的閉環(huán)特征方程為s3+2s2+3s+2=0，則系統(tǒng)的開環(huán)傳遞函數(shù)不可能為（）。

前饋校正一般不單獨使用，總是和其他校正方式結合起來構成（）控制系統(tǒng)，以滿足某些性能要求較高的系統(tǒng)的需要。

對于典型二階系統(tǒng)，當系統(tǒng)為欠阻尼時，其階躍響應呈現(xiàn)（）。