A.ωL
B.2πωL
C.2πfL
D.A和C
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A.線圈的電壓
B.線圈的電流
C.線圈的導(dǎo)納
D.空心線圈的電抗
A.測量繞組阻抗
B.測量繞組線徑
C.激勵磁場強(qiáng)度
D.激勵繞組形狀
A.試件形狀
B.頻率比f/fg
C.信號相位
D.間距
A.鎳銅合金
B.鋁黃銅
C.鉛黃銅
D.紫銅
A.軸承鋼
B.不銹鋼
C.鋁材
D.全部可以不要
最新試題
產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗(yàn)合格后不得再實(shí)施影響接頭性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否則應(yīng)重新申請進(jìn)行X射線檢測。
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
像質(zhì)計放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。
下面給出的射線檢測基本原理中,正確的是()。
下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中,錯誤的是()。
對于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫,采用的透照方式為()。
對于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()
檢測申請時工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗(yàn)蓋章確認(rèn),確保焊接、檢驗(yàn)、檢測等全過程具有可追溯性。
X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。