A.斜探頭表面波法
B.直探頭縱波法
C.表面波水浸探傷法
D.共振法
E.斜探頭橫波法
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A.應(yīng)盡可能小
B.對探傷無影響
C.應(yīng)與校驗時用的水層距離相同
D.應(yīng)盡可能大
A.看入射表面的反射波幅是否最大
B.看水層多次反射是否消除
C.看底面反射波幅是否最大
D.看始脈沖波幅是否最大
A.使縱波沿工件表面垂直方向射入試件
B.用兩個晶片以不同頻率振動
C.用低頻探頭
D.使重波探頭對試件表面傾斜一定角度入射
A.將X 一切割的石英晶片直接放在材料表面，涂油耦合
B.將兩個探頭對置在試件兩面
C.將球形聲透鏡加在探頭上
D.同斜探頭，晶片裝在塑料斜楔上，聲束傾斜進入工件
A.檢測速度有變化時
B.實際傳播聲速與給定材料所取聲速值明顯不同時
C.探頭與被測工件間用水耦合時
D.用縱波時
最新試題
二次打底焊接或重熔排除，無需辦理相關(guān)手續(xù)，直接使用前次的申請手續(xù)。
X射線檢驗人員負責(zé)對需排除的超標缺陷實施定位、做好相應(yīng)標注，確保定位準確。
按輻射安全管理規(guī)定，輻射作業(yè)場所每周應(yīng)進行一次輻射劑量檢測。
射線檢測最有害的危險源是（），必須嚴加控制。
為了提高射線照相對比度，可以采用高電壓、短時間、大管電流的方式曝光。
像質(zhì)計放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同，相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當減少放置次數(shù)．但不少于透照次數(shù)的三分之一。
觀察底片時，為能識別缺陷圖像，缺陷圖像對比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識別閾值。
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求，經(jīng)表面檢驗合格，申請單無需檢驗蓋章確認。
廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集，定期送指定的機構(gòu)處理。
X射線檢測人員健康體檢為每（）年一次。