A.反射縱波
B.反射橫波
C.折射縱波和折射橫波
D.以上都有
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.入射波波型
B.入射角度
C.界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗
D.以上都是
A.R+T=1
B.T=1-R
C.R=1-T
D.以上全對
A.與界面兩側(cè)材料的聲速有關(guān)
B.與界面兩側(cè)材料的密度有關(guān)
C.與界面兩側(cè)材料的聲阻抗有關(guān)
D.與入射波的波型有關(guān)
A.界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速
B.界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗
C.界面兩側(cè)介質(zhì)的衰減系數(shù)
D.以上全部
A.一樣
B.傳播縱波時大
C.傳播橫波時大
D.無法確定
最新試題
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
用折射角β的斜探頭進行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進行傳輸修正。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當提高后的靈敏度叫做()。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。