A.顯示器的刷新頻率
B.采樣頻率
C.存儲深度或字長
D.以上都是
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.便于信號的存儲、記錄和再現(xiàn)
B.顯示器不需要傳統(tǒng)的示波管
C.便于小型化
D.以上都是
A.對晶片的振動起阻尼作用
B.對晶片起支撐作用
C.吸收晶片背面發(fā)射的超聲波
D.以上都是
A.作為探測時的基準,并為評價工件中的缺陷與已知反射體進行比較;
B.為探傷人員提供一種確定缺陷實際尺寸的工具;
C.為檢出某一規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供保證;
D.提供一個能精確模擬某一臨界尺寸自然缺陷提供保證。
A.這些反射體的回波脈沖寬度是不一樣的
B.考慮到不同材質的衰減因素;
C.可以隨工件情況不同以便得到一個能模擬某一特定尺寸的信號
D.以上都是
A.測定探頭特性
B.確定不連續(xù)性尺寸及位置
C.評估材料的聲傳播特性
D.以上都是
最新試題
儀器水平線性影響()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
調節(jié)時基線時,應使()同時對準相應的聲程位置。
()是影響缺陷定量的因素。
關于液浸法的優(yōu)點,說法錯誤的是()。
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準。