圖是橫波檢測(cè)示意圖，圖中標(biāo)注的A、B、C、D4個(gè)水平距離中，哪個(gè)表示0.5跨距（）
A.A
B.B
C.C
D.D
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
圖是直射縱波一次脈沖反射法檢測(cè)同樣厚度試件的三種典型的波形圖。比較各波形，試判斷在同樣檢測(cè)條件下，哪個(gè)波形圖表示無(wú)缺陷（）
A.波形圖1
B.波形圖2
C.波形圖3
D.不能確定
圖是直射縱波一次脈沖反射法檢測(cè)同樣厚度試件的三種典型的波形圖。比較各波形，試判斷在同樣檢測(cè)條件下，哪個(gè)波形圖可能存在較小缺陷？（）
A.波形圖1
B.波形圖2
C.波形圖3
D.不能確定
圖是直射縱波一次脈沖反射法檢測(cè)同樣厚度試件的三種典型的波形圖。比較各波形，試判斷在同樣檢測(cè)條件下，哪個(gè)波形圖可能存在較大缺陷（）
A.波形圖1
B.波形圖2
C.波形圖3
D.不能確定
圖是雙晶探頭脈沖反射法檢測(cè)示意圖，如果右圖中波T和波3分別是始波和試件底波，則波1和波2分別代表以下哪種波（）
A.波1是缺陷F波、波2是缺陷F二次波
B.波1是雜波、波2是缺陷F波
C.波1是界面波、波2為缺陷F波
D.以上都可能
一缺陷主平面垂直于試件A面且位于試件中部，如圖所示，如果只能從試件B面探測(cè)的話(huà)，采用下列哪種技術(shù)比較合適？（）
A.直射聲束單探頭
B. 斜射聲束單探頭
C.直射聲束雙探頭
D.斜射聲束雙探頭
最新試題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線(xiàn)所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線(xiàn)長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱(chēng)為（）。
超聲波儀時(shí)基線(xiàn)的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
儀器水平線(xiàn)性影響（）。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。