A.氣孔
B.裂紋
C.焊道
D.以上都是
E.只有A 和B
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.垂直于聲波的裂紋
B.方向不規(guī)則的夾雜物
C.平行于表面的分層
D.一連串小缺陷
A.鑄件晶粒結(jié)構(gòu)一般很小
B.粗晶結(jié)構(gòu)
C.有均勻的金屬流線
D.缺陷取向不規(guī)則
A.表面反射波幅
B.多次反射波形
C.始脈沖波幅
D.探頭掃查板材時(shí)，沿時(shí)基線游動(dòng)的信號(hào)
A.斜探頭表面波法
B.直探頭縱波法
C.表面波水浸探傷法
D.共振法
E.斜探頭橫波法
A.應(yīng)盡可能小
B.對(duì)探傷無(wú)影響
C.應(yīng)與校驗(yàn)時(shí)用的水層距離相同
D.應(yīng)盡可能大
最新試題
下面給出的射線檢測(cè)基本原理中，正確的是（）。
對(duì)于厚度變化較大的變截面工件透照，只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí)，就可采用多膠片技術(shù)。
對(duì)含有內(nèi)穿過(guò)式線圈的薄壁管，影響其阻抗變化的因素有（）
按輻射安全管理規(guī)定，輻射作業(yè)場(chǎng)所每周應(yīng)進(jìn)行一次輻射劑量檢測(cè)。
在射線照相檢驗(yàn)中，隨著射線能量的提高，得到的圖像不清晰度也將增大。
X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查，并出具X光底片復(fù)查報(bào)告，復(fù)查無(wú)遺留問(wèn)題方可進(jìn)行試壓。
X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對(duì)需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注，確保定位準(zhǔn)確。
超差缺陷是否排除，由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請(qǐng)、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測(cè)。
對(duì)焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品，工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定，檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn)，檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請(qǐng)單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn)，否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。
航天無(wú)損檢測(cè)人員的資格分為三個(gè)等級(jí)：Ⅰ級(jí)為初級(jí)，Ⅱ級(jí)為中級(jí)，Ⅲ級(jí)為高級(jí)。其中Ⅱ級(jí)人員應(yīng)具備的能力有（）。