采樣控制系統(tǒng)在采樣間隔期間，對作用于系統(tǒng)的擾動沒有補償作用。（）

閉環(huán)極點的積等于開環(huán)極點的積。（）

關(guān)于動態(tài)系統(tǒng)，下列說法錯誤的是：（）

用根軌跡法進行系統(tǒng)校正，是將高階系統(tǒng)看作次阻尼二階系統(tǒng)進行設(shè)計，所以，在校正裝置設(shè)計之后，需要進行（），看被忽略掉的系統(tǒng)極點對系統(tǒng)動態(tài)性能的影響。正因為降階處理的粗略性，設(shè)計初確定主導(dǎo)極點位置時需要留出（）。

從頻域角度，系統(tǒng)的串連校正方式主要有（）校正、（）校正和（）校正。

系統(tǒng)的相角裕量越大，超調(diào)越（）；截至頻率越高，快速性越（），抗高頻干擾的能力越（）。

系統(tǒng)中引入相位超前校正裝置后，系統(tǒng)的（）。

前饋校正一般不單獨使用，總是和其他校正方式結(jié)合起來構(gòu)成（）控制系統(tǒng)，以滿足某些性能要求較高的系統(tǒng)的需要。

用根軌跡法設(shè)計系統(tǒng)的校正裝置，首先由給定的（）確定主導(dǎo)極點的位置：然后通過設(shè)置校正裝置的（）使根軌跡通過主導(dǎo)極點的預(yù)期位置；最后，計算預(yù)期位置處的根軌跡增益從而得到校正裝置（），通過增加（）滿足系統(tǒng)的靜態(tài)精度要求。

二次振蕩環(huán)節(jié)中包含（）個獨立儲能元件。