A.底片黑度
B.膠片顆粒性
C.觀片條件
D.個人視覺能力
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A.底片質量
B.缺陷自身的高度
C.缺陷寬度
D.缺陷與射線束的角度
A.底片上顯示的像質計型號、規(guī)格應正確
B.底片上顯示的像質計擺放應符合要求
C.要求清晰顯示鋼絲影像的區(qū)域是指焊縫區(qū)域,熱影響區(qū)和母材區(qū)域則無此要求
D.如能清晰地看到長度不小于10mm的像質計鋼絲影像,則可認為底片靈敏度達到該鋼絲代表的像質指數(shù)
A.增感屏的屏面應保持光滑無損傷、變形
B.增感屏屏面定期淸潔
C.增感屏與膠片緊密貼合
D.膠片與增感屏之間不能夾雜異物
A.每年至少校驗一次
B.射線設備更換重要部件應及時校驗或重新制作
C.線設備經大修后應及時校驗或重新制作
D.制作完成就可以不需校驗
A.能很快地滲入細微的開口中去
B.揮發(fā)快
C.能保留在比較大的開口中
D.探傷后容易從零件表面上去除掉
最新試題
衍射時差法對缺陷的定量依賴于缺陷的回波幅度。
檢測曲面工件時,探頭與工件接觸有兩種情況,一是平面與曲面接觸,另一種是將探頭斜楔磨成曲面,探頭與工件曲面接觸。
對于圓柱體而言,外圓徑向檢測實心圓柱體時,入射點處的回波聲壓實際上由于圓柱面耦合不及平面,因而其回波高于平底面,會使定量誤差增加。
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
對于橫波斜探頭而言,不同K值的探頭的靈敏度不同,因此探頭K值偏差也會影響缺陷的定量。
當探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時,而又沒有進行適當?shù)难a償,會使定量誤差增加,精度下降。
電磁超聲探頭在工件的表層內產生的渦流,在外加磁場的作用下,在工件中形成超聲波波源。
水浸式探頭主要特點是探頭與工件直接接觸,且探頭部分或全部門浸入耦合液中。
動態(tài)范圍的最小信號可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
儀器時基線比例一般在試塊上調節(jié),當工件與試塊的聲速不同時,儀器的時基線比例發(fā)生變化,影響缺陷定位精度。