單項選擇題現(xiàn)代光刻工藝有10個步驟,其中4個是熱處理步驟,下列哪個熱處理順序是正確的?()
A.前烘、后烘、打底膜、堅膜
B.打底膜、前烘、后烘、堅膜
C.預(yù)烘、堅膜、前烘、后烘
D.打底膜、堅膜、前烘、后烘
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1.多項選擇題?Si3N4薄膜的特性有()。
A.針孔少
B.對底層金屬可保形覆蓋
C.介電常數(shù)較大
D.擴散掩蔽能力強
2.多項選擇題?Si3N4薄膜的用途有()。
A.淺槽隔離的CMP停止層
B.最終鈍化膜和機械保護膜
C.MOSFETs中的側(cè)墻
D.選擇性氧化的掩蔽膜
3.多項選擇題實現(xiàn)CVD工藝保形覆蓋的關(guān)鍵因素有()。
A.表面遷移
B.直接入射
C.再發(fā)射
D.到達(dá)角
4.多項選擇題CVD制備SiO2的方法有()。
A.中溫LPCVD
B.低溫APCVD
C.低溫PECVD
D.低溫LPCVD
5.多項選擇題金屬W(鎢)的用途有()。
A.局部互連
B.全局互連
C.鎢插塞
D.柵極
最新試題
鍵合點根部容易發(fā)生微裂紋,原因可能是鍵合操作中機械疲勞,也可能是溫度循環(huán)導(dǎo)致熱應(yīng)力疲勞。
題型:判斷題
引線鍵合的參數(shù)主要包括()。
題型:多項選擇題
倒裝芯片的連接方式有()。
題型:多項選擇題
常規(guī)芯片封裝生產(chǎn)過程包括粘裝和引線鍵合兩個工序,而倒裝芯片則合二為一。
題型:判斷題
下面不屬于QFP封裝改進品質(zhì)的是()。
題型:單項選擇題
下面關(guān)于PBGA器件的優(yōu)缺點,說法錯誤的是()。
題型:單項選擇題
制造和封裝工藝過程中的材料性能是決定材料應(yīng)用的關(guān)鍵,制造性能主要包括()。
題型:多項選擇題
按照芯片組裝方式的不同,關(guān)于SiP的分類,說法錯誤的是()。
題型:單項選擇題
鍵合常用的劈刀形狀,下列說法正確的是()。
題型:多項選擇題
因為QFP封裝的可靠性高,且其封裝外形尺寸較小,寄生參數(shù)減小,故多用于高頻電路、音頻電路、微處理器、電源電路。
題型:判斷題