A.采用較低能量的射線
B.減小散射線
C.選用γ值更高的膠片和采用反差更高的顯影配方
D.選擇最佳黑度
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A.底片黑度
B.膠片顆粒性
C.觀片條件
D.個人視覺能力
A.底片質(zhì)量
B.缺陷自身的高度
C.缺陷寬度
D.缺陷與射線束的角度
A.底片上顯示的像質(zhì)計型號、規(guī)格應(yīng)正確
B.底片上顯示的像質(zhì)計擺放應(yīng)符合要求
C.要求清晰顯示鋼絲影像的區(qū)域是指焊縫區(qū)域，熱影響區(qū)和母材區(qū)域則無此要求
D.如能清晰地看到長度不小于10mm的像質(zhì)計鋼絲影像，則可認(rèn)為底片靈敏度達(dá)到該鋼絲代表的像質(zhì)指數(shù)
A.增感屏的屏面應(yīng)保持光滑無損傷、變形
B.增感屏屏面定期淸潔
C.增感屏與膠片緊密貼合
D.膠片與增感屏之間不能夾雜異物
A.每年至少校驗一次
B.射線設(shè)備更換重要部件應(yīng)及時校驗或重新制作
C.線設(shè)備經(jīng)大修后應(yīng)及時校驗或重新制作
D.制作完成就可以不需校驗
最新試題
高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊，使之形成高溫耦合層。
對于圓柱體而言，外圓徑向檢測實心圓柱體時，入射點處的回波聲壓實際上由于圓柱面耦合不及平面，因而其回波高于平底面，會使定量誤差增加。
缺陷相對反射率即缺陷反射聲壓與基準(zhǔn)反射體聲壓之比。
當(dāng)探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時，而又沒有進(jìn)行適當(dāng)?shù)难a償，會使定量誤差增加，精度下降。
液浸法探傷是使探頭發(fā)射的超聲波經(jīng)過一段液體后再進(jìn)入試件的檢測的方法。
超聲波檢測中如果被檢工件衰減嚴(yán)重，定量會受到影響。
衍射時差法對缺陷檢出率高，超聲波束覆蓋區(qū)域大，缺陷高度測量精確，實時成像，快速分析。
超聲波在圓柱內(nèi)反射，如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換，且一次反射橫波再經(jīng)另一側(cè)圓柱面波形轉(zhuǎn)換成二反射縱波，返回探頭接收，會形成等邊的三角形遲到回波。
缺陷垂直時，擴散波束入射至缺陷時回波較高，而定位時就會誤認(rèn)為缺陷在軸線上，從而導(dǎo)致定位不準(zhǔn)。
在檢測晶粒粗大和大型工件時，應(yīng)測定材料的衰減系數(shù)，計算時應(yīng)考慮介質(zhì)衰減的影響。