判斷題駐波效應破壞了光刻膠圖形側(cè)壁的垂直性,也導致光刻膠CD測量的不穩(wěn)定。
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鍵合工藝失效,,鍵合點尾絲不一致,可能產(chǎn)生的原因有()。
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WLCSP技術(shù)最根本的優(yōu)點是IC到PCB之間的電感很大。
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題型:判斷題